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JCM-7000是日本電子新推出的一款臺式掃描電子顯微鏡。其不僅繼承了日本電子大型電鏡強大的功能，相對于大型掃描電鏡，其自動化程度高，操作簡單便捷，維護保養(yǎng)容易，體積小巧，價格低廉，檢測速度快，從啟動裝填樣品到測試出結果僅需5分鐘左右。JCM-7000還創(chuàng)新的加入了實時能譜分析和實時3D顯示的功能，更高效便捷的服務于您的研究和工作。

JED-2300/2300F系列掃描電鏡能譜儀，可進行非導電元素微區(qū)分析。使用JEOL*的軟件“ Analysis Station”，通過與SEM的馬達驅(qū)動樣品臺聯(lián)動使用，可以進行大范圍的觀察和分析，可實現(xiàn)分析結果和分析位置自動對應?？蛇m用于日本電子多種型號電鏡。

JSM-7900F 超高分辨熱場發(fā)射掃描電鏡品是JEOL,是推出的新一代FE-SEM旗艦機型。 它繼承了上一代廣獲好評的*空間分辨率、高穩(wěn)定性、多種功能等性能的同時，操作性能簡單化。 該設備不依賴操作者的技能，始終能夠發(fā)揮其性能。

JSM-IT200鎢燈絲掃描電鏡是一款操作便捷、使用方便，性價比高的全新數(shù)字化鎢燈絲掃描電子顯微鏡，可廣泛的應用于各個領域。

JSM-7200F高速分析熱場發(fā)射電鏡是日本電子株式會社（JEOL Ltd.）于2015年推出的一款多功能、簡單易用的分析型場發(fā)射掃描電鏡，這款高分辨率掃描電鏡是進行樣品納米級圖像顯微分析與微區(qū)化學成分分析的理想選擇。通過醉佳光闌角控制透鏡技術，JSM-7200F可以在任意加速電壓下實現(xiàn)小束斑尺寸的大分析束流進而可以輕松實現(xiàn)100nm以內(nèi)的高空間分辨率分析。

JCM-7000臺式電鏡SEM自動化程度高，操作簡單便捷，維護保養(yǎng)容易，體積小巧，價格低廉，檢測速度快，從啟動裝填樣品到測試出結果僅需5分鐘左右。JCM-7000還創(chuàng)新的加入了實時能譜分析和實時3D顯示的功能，更高效便捷的服務于您的研究和工作。