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Guinier G670.3高溫環(huán)境XRD運用成像板技術(shù)，通過成熟的工藝技術(shù)，配合溫度調(diào)節(jié)配件，可對高至1772℃的粉末樣品進(jìn)行X射線衍射測量。
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